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  • 中上 明光 ID: 9000002980310

    (株)神戸製鋼所浅田研究所 (1979 from CiNii)

    Articles in CiNii:2

    • 418 低合金鋼の高圧下における CCT 曲線(耐熱鋼・耐熱合金・相変態・マルテンサイト, 性質, 日本鉄鋼協会 第 95 回(春季)講演大会) (1978)
    • 472 大形ロータ材の焼き入れ時の応力解析と残留応力(熱処理・耐熱合金 (II), 性質, 日本鉄鋼協会 第 97 回(春季)講演大会) (1979)
  • 中上 明光 ID: 9000003421386

    広島大理 (1971 from CiNii)

    Articles in CiNii:3

    • 4a-TG-6 Mg-Cu-Ni系Friauf-Laves相の結晶構造 (1970)
    • 3p-E-4 Mg-Ni-Zn系Friauf-Laves相の結晶構造 (1970)
    • 2p-P-3 Mgを基とする擬二元素 Friauf-Laves 相の結晶構造 (1971)
  • 中上 明光 ID: 9000003424404

    神鋼基礎研 (1973 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 22a-N-12 超高圧下のエネルギ分散型X線回折 (1973)
  • 中上 明光 ID: 9000007116567

    Articles in CiNii:4

    • アモルファスシリコン薄膜の光電特性 (1988)
    • エキシマレ-ザによる光CVD技術 (表面処理・表面改質特集) (1989)
    • 光スポットの分散検出センサ (電子材料・部品<特集>) (1989)
  • 中上 明光 ID: 9000007460432

    Articles in CiNii:1

    • エレクトロルミネッセンスの開発動向 (オプトエレクトロニクス材料<特集>) (1989)
  • 中上 明光 ID: 9000009590473

    Articles in CiNii:3

    • 解説 高分解能結晶方位解析法(FESEM/EBSP法)による薄膜材料の配向性評価 (特集:薄膜技術) (2002)
    • 解説 ナノインデンテーション法による薄膜の機械的特性評価 (特集:薄膜技術) (2002)
    • ナノインデンターによる薄膜評価技術 (2002)
  • 中上 明光 ID: 9000350611784

    (株) 神戸製鋼所浅田研究所 (1978 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 日本鉄鋼協会第95回講演大会講演概要:性質 (1978)
  • 中上 明光 ID: 9000350613615

    (株) 神戸製鋼所浅田研究所 (1979 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 日本鉄鋼協会第97回講演大会講演概要:性質 (1979)
  • NAKAUE AKIMITU ID: 9000256365196

    (株) 神戸製鋼所 浅田基礎研究所 (1974 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Sintering of diamond (1974)
  • Nakaue A. ID: 9000283549235

    Electronics Research Laboratory, Technical Development Group, Kobe Steel, Ltd. (1993 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Co-based Alloy Thin-Film Media on Carbon Substrates. (1993)
  • Nakaue A. ID: 9000283549435

    Electronics Res. Lab., Technical Development Group, Kobe Steel, Ltd. (1994 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Recording Properties of Co-Based Alloy Heat-Treated Media. (1994)
  • Nakaue A. ID: 9000283550566

    Electronics Research Laboratory, Kobe Steel, Ltd. (1995 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Magnetic Analysis for a Thin-Film Head with a High-Bs Yoke. (1995)
  • Nakaue Aimittu ID: 9000397687042

    KOBELCO RESEARCH INSTITUTE, INC. (2013 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Effect of dicing process on dislocation in GaN epitaxial layer (2013)
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