Search Results1-20 of  142

  • 吉原 一紘 ID: 9000242160907

    Articles in CiNii:1

    • The Usage of Common Data Processing System Version 10(4)Database (2013)
  • 吉原 一紘 ID: 9000259823051

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    • The Usage of Common Data Processing System Version 10(5)Calibration (2014)
  • 吉原 一紘 ID: 9000259823078

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    • Introduction of Cluster Analysis (2014)
  • 吉原 一紘 ID: 9000275835334

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    • The Usage of Common Data Processing System Version 10(6)Simulation (2014)
  • 吉原 一紘 ID: 9000007460315

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    • 制御雰囲気熱処理によるセラミックス被覆合金研究部会 (研究会ガイド-2-<特集>) (1988)
  • 吉原 一紘 ID: 9000009389545

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    • Common Data Processing System Version6の紹介 (1999)
    • COMPRO Version6 使用方法(1) (1999)
    • COMPRO Version6 使用方法(2完) (1999)
  • 吉原 一紘 ID: 9000009582645

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    • わかる入門講座 ナノテクの世界(その1)ナノテクノロジーとは (2002)
  • 吉原 一紘 ID: 9000017362730

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    • 半導体分野におけるナノメートルスケールの機械特性評価手法の紹介 (特集 半導体・FPD製造プロセス) (2010)
  • 吉原 一紘 ID: 9000024994910

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    • データ解析ソフトウェアCOMPROの新機能 : 角度分解XPSを使った半導体バンド曲りの定量評価 (表面分析研究会 第39回研究会 講演資料) (2012)
  • 吉原 一紘 ID: 9000242160723

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    • 表面分析のシミュレーター用入力ファイル及び参照スペクトルの記述のためのXMLを用いた共通データフォーマットの提案 (表面分析研究会 第41回研究会 講演資料) (2013)
  • 吉原 一紘 ID: 9000242160750

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    • New AES Standard Spectra in the COMPRO : Cr, Ca. GaP, Mn, Ti (2013)
  • 吉原 一紘 ID: 9000242160803

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    • PCAと球面SOM法によるTOF-SIMSスペクトル解析 (表面分析研究会 第41回研究会 講演資料) (2013)
  • 吉原 一紘 ID: 9000259822797

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    • データフォーマット検討ワーキンググループの活動報告 (表面分析研究会 第42回研究会 講演資料) (2014)
  • 吉原 一紘 ID: 9000259822888

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    • COMPROに追加するAES標準スペクトル : ZnO, Pb, Al₂O₃(Sapphire), TiO₂(110 on Si), GaAs(p), MoS2, Mica, Fe(R.Robin), SiO₂(Quartz), Ga(liquid), Diamond(天然) (表面分析研究会 第42回研究会 講演資料) (2014)
  • 吉原 一紘 ID: 9000342454288

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    • COMPROに加えるAES・SEのデーターベース : フラーレン,グラフェン(s), Se, Bi₂Se₃, SrTiO₃, GaN, W(111) (表面分析研究会 第47回研究会 講演資料) (2016)
  • 吉原 一紘 ID: 9000350602152

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    • 抄録 (1976)
  • 吉原 一紘 ID: 9000350607089

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    • 抄録 (1979)
  • 吉原 一紘 ID: 9000350636971

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    • 抄録 (1985)
  • 吉原 一紘 ID: 9000356628805

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    • The usage of COMPRO12(1) (2017)
  • 吉原 一紘 ID: 9000375910346

    Articles in CiNii:1

    • The Usage of COMPRO12(part 1) (2017)
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