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  • 土本 淳一 ID: 9000253688388

    阪大基礎工 (1985 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • レーザープロセッシング (1985)
  • 土本 淳一 ID: 9000336055427

    Articles in CiNii:1

    • 原子層堆積法で成膜したAl₂O₃膜界面に及ぼす酸化種の影響 (シリコン材料・デバイス) (2016)
  • TSUCHIMOTO Jun-ichi ID: 9000004963916

    ルネサスエレクトロニクス株式会社 (2011 from CiNii)

    Articles in CiNii:12

    • Fabrication of SiN Gate Dielectrics by Direct Nitridation of Si Substrate (2003)
    • Fabrication of High-Performance, Highly Reliable HfSiON Gate Dielectric (2006)
    • Analysis of Metal Impurity in Hf Oxide Originated in Source Materials and Its Impact on TDDB Lifetime (2007)
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