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  • 大柳 宏之 ID: 9000003400507

    電総研 (1981 from CiNii)

    Articles in CiNii:10

    • EXAFS--新しい構造決定手段 (話題のスペクトロスコピ-) (1979)
    • アモルファス半導体の構造 (アモルファス物質<特集>) (1980)
    • 4p-K-8 NaCl構造InSbの電子構造(I) (1977)
  • 大柳 宏之 ID: 9000007633300

    Articles in CiNii:1

    • 半導体表面の原子配列を「その場」で観察--表面原子のおきかわりをとらえる (1993)
  • 大柳 宏之 ID: 9000008363498

    Articles in CiNii:1

    • EXAFSによる導電性高分子材料の評価--臭素をド-プしたポリアセチレンの局所構造 (導電材料とその応用) -- (その他) (1986)
  • 大柳 宏之 ID: 9000008781876

    Articles in CiNii:1

    • X線吸収分光のフロンテイア (2002)
  • 大柳 宏之 ID: 9000018351309

    Articles in CiNii:8

    • 〔工業技術院電子技術総合研究所〕研究設備紹介-4-EXAFSの高感度化と"その場"構造解析 (1989)
    • Local Structure and Valence States in Ba2YCu3Oy Studied by X-Ray Absorption Fine Structure (新超伝導体<特集>) (1989)
    • Local Structure and Valence States of Fe-Doped Ba2YCu3Oy (新超伝導体<特集>) (1989)
  • 大柳 宏之 ID: 9000018377491

    Articles in CiNii:2

    • 会議だより 高温超伝導体の電子状態と格子効果に関する国際ワークショップ報告 (2006)
    • 会議だより 高温超伝導発見20周年記念シンポジウムに出席しての印象記 (2006)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020029976

    電総研 (1985 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • GeO<SUB>2</SUB>ガラスのEXAFSスペクトル (1985)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020090262

    Articles in CiNii:1

    • XAFSの標準化に関する国際ワークショップ報告 (1991)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020102104

    電総研 (1985 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 非晶質合金Mg<SUB>70</SUB>Zn<SUB>26</SUB>Cu<SUB>4</SUB>及びMg<SUB>70</SUB>Zn<SUB>24</SUB>Ga<SUB>6</SUB>のEXAFS測定 (1985)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020149017

    電総研 (1985 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 分散型配置によるEXAFSの時分割測定 (1985)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020179667

    電総研 (1993 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • EXAFSと単結晶X線回折によるxY<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>・ (1-x) Ta<SUB>2</SUB>O<SUB>5</SUB> (x=0.75) の構造解析 (1993)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020192463

    電総研 (1985 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 螢光EXAFSおよびXANESによるヘムタンパク質の局所構造解析:―ミオグロビンの熱的スピン平衡― (1985)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020225839

    電総研 (1986 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 放射光用結晶分光型四軸回折計の製作とそれによる散漫散乱測定 (1986)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020227726

    東大・物性研 (1979 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • EXAFS測定によるNa<SUB>2</SUB>O・4GeO<SUB>2</SUB>ガラスの構造解析 (1979)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020261464

    電総研 (1985 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • III-V, II-VI族半導体のXANESスペクトル (1985)
  • 大柳 宏之 ID: 9000020342231

    東大物性研 (1980 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • EXAFSと非晶質構造 (1980)
  • 大柳 宏之 ID: 9000241127059

    産総研 (2013 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • ビーム物理領域,領域10「CWトップアップ入射により高輝度化を達成した卓上型放射光源について」(企画講演,第68回年次大会招待・企画・チュートリアル講演の報告,学会報告) (2013)
  • 大柳 宏之 ID: 9000242848307

    電総研 (1987 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 30a-LE-3 NbSx(x〓3)のEXAFS(半導体) (1987)
  • 大柳 宏之 ID: 9000242848317

    電総研 (1987 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 30a-LE-5 (NbSe_4)_3Iの相転移とEXAFS(半導体) (1987)
  • 大柳 宏之 ID: 9000246818372

    電総研 (1985 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 2p-D4-6 ヨウ素をドープしたポリアセチレンの偏光X線吸収スペクトル : II. XANES(分子性結晶・液晶・有機半導体) (1985)
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