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  • 指方 研二 ID: 9000000020499

    東北大学工学部 (1997 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • In Situ測定の実際(1) 走査型トンネル顕微鏡測定 (1997)
  • 指方 研二 ID: 9000018851636

    Articles in CiNii:1

    • インタビュー 石巻専修大学の例 : 一体何が大学を守ったのか? (特集 理工系大学の「根本的な地震対策」を考える) (2011)
  • 指方 研二 ID: 9000257693944

    Articles in CiNii:1

    • Analysis of the Initial Stage of Electrochemical Deposition on Carbon Electrodes (2012)
  • SASHIKATA Kenji ID: 9000000112220

    Department of Applied Chemistry, Faculty of Engineering, Tohoku University (1997 from CiNii)

    Articles in CiNii:3

    • Surface Characterization by STM and AFM Techniques (1997)
    • 電気化学へのSTMの応用 (1992年の化学-5-) (1992)
    • 白金電極表面の極微構造 (電気化学におけるSTMとAFM<特集>) (1992)
  • Sashikata Kenji ID: 9000256658947

    Department of Applied Chemistry, Faculty of Engineering, Tohoku University (1997 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Surface Characterization by STM and AFM Techniques. (1997)
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