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  • 秋田 貢一 ID: 9000364866136

    Articles in CiNii:1

    • 111 X 線回折線半価幅の疲労破面下深さ方向分布によるΔ Keff の推定法 (1994)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364866305

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    • 136 疲労破面の残留応力および塑性域深さに及ぼす初期残留応力の影響 (1995)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364866307

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    • 137 ねじり疲労破面への X 線フラクトグラフィの適用 (1995)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364866501

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    • 212 低サイクル疲労と疲労き裂先端のひずみ挙動の相関について (1997)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364943802

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    • 131 溶射皮膜の曲げ負荷における微視き裂急増応力の AE 法による評価 (1998)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364943945

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    • 207 赤道儀型揺動によるシリコン単結晶の X 線応力測定 (1999)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364944023

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    • 116 Co 基盛金材の疲労特性に及ぼす溶接欠陥の影響 (1999)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364944257

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    • 319 シンクロトロン放射光による極薄層内の残留応力分布測定 (2000)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364944261

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    • 327 ナノインデンターによる Si+C_2 重イオン注入材の硬度分布測定 (2000)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364944411

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    • 605 Ti-Al 系金属間化合物圧延材の強度特性 (2001)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364944535

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    • 625 立方晶および三方晶単結晶材料の X 線応力測定 (2001)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364944681

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    • 223 方向性電磁鋼板における粗大結晶粒内のレーザー照射誘起残留応力分布 : 無ひずみ状態の回折角を推定できる単結晶 X 線応力測定法の提案と応用 (2002)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364944694

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    • 233 複数波長のシンクロトロン放射光による残留応力の深さ分布測定 : X 線侵入深さの検討 (2002)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364985771

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    • 302 Cu薄膜の機械的性質および残留応力の評価(機能性材料の残留応力評価)(残留応力の評価と適用)(オーガナイスドセツション2) (2003)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364985773

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    • 304 一方向強化炭素繊維複合材料のX線応力測定(機能性材料の残留応力評価)(残留応力の評価と適用)(オーガナイスドセツション2) (2003)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364985775

    Articles in CiNii:1

    • 305 方向性電磁鋼板の鉄損に及ぼすレーザー照射誘起残留応力の影響(機能性材料の残留応力評価)(残留応力の評価と適用)(オーガナイスドセツション2) (2003)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364985781

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    • 315 レーザーピーニング処理をしたNi基合金溶接金属の残留応力測定技術の開発(表面処理材の残留応力評価)(残留応力の評価と適用)(オーガナイスドセツション2) (2003)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364985998

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    • 201 Cu薄膜の真性応力におよぼす基板の表面エネルギーの影響(薄膜の応力測定,残留応力の評価と強度,オーガナイスドセッション3,第53期学術講演会) (2004)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364986324

    Articles in CiNii:1

    • 511 Non-destructive Measurement of Residual Stress Depth Distribution on Laser-peened Material (2005)
  • 秋田 貢一 ID: 9000364998181

    Articles in CiNii:1

    • 316 放射光による3%Si鉄単結晶のひずみマッピング(新技術による応力・ひずみ評価,オーガナイズドセッション3.応力・ひずみの測定と材料強度) (2007)
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