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  • 藤原 久利 ID: 9000008557204

    Articles in CiNii:1

    • 精密機械加工・組立工場におけるファクトリ-オ-トメ-ション--冷蔵庫用ロ-タリコンプレッサ (ファクトリ-オ-トメ-ションシステム<特集>) (1986)
  • 藤原 久利 ID: 9000009187913

    Articles in CiNii:1

    • ガラス基板のフラットネス計測 (特集 光三次元計測技術の現状と将来動向) (2001)
  • FUJIWARA Hisatoshi ID: 9000000162620

    (株)山武 (2002 from CiNii)

    Articles in CiNii:6

    • 位相シフトモアレ法による液晶基板のフラットネス測定法 (1995)
    • 位相シフトモアレ法によるLCDガラス基板平坦度計測法 (1996)
    • 位相シフトモアレ法によるLCDガラス基板平坦度計測法(第2報) (1997)
  • Fujiwara Hisatoshi ID: 9000258634563

    Yamatake Co. (2003 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Reflection Moire for High Spatial Resolution (2003)
  • Fujiwara Hisatoshi ID: 9000258638473

    Yamatake Co. (2004 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Elimination Method of Grating Pattern for Projection Moire (2004)
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