Search Results1-14 of  14

  • 高松 弘行 ID: 9000007117279

    Articles in CiNii:3

    • レ-ザ干渉プロ-ブによる光熱変位計測システム (1991)
    • 半導体結晶欠陥評価のための新しいレ-ザ光熱変位計測 (電子材料高度評価技術<特集>) (1992)
    • 大気圧誘電体バリア放電によるポリマリック水素化アモルファスカーボンの官能基置換特性 (特集:微細組織制御技術) (2005)
  • 高松 弘行 ID: 9000253695346

    (株) 神戸製鋼所 (1995 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • レーザー計測 (1995)
  • 高松 弘行 ID: 9000319563712

    Articles in CiNii:1

    • 2モード超音波センサによる表面応力測定 : 表面SH波とレーリー波を併用した高精度な表面応力測定 (特集 超音波等を適用したプラントの保守検査(2)) (2016)
  • 高松 弘行 ID: 9000347058735

    (株)神戸製鋼所 (2010 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 非接触表面光電圧プローブを用いた多結晶シリコン薄膜の結晶性評価 (2010)
  • 高松 弘行 ID: 9000347094900

    (株)神戸製鋼所 (2011 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 交流表面光電圧による多結晶シリコン薄膜の結晶粒径評価 (2011)
  • 高松 弘行 ID: 9000347152428

    ㈱神戸製鋼所 (2013 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 表面光電圧法による熱処理したa-Si薄膜の結晶性評価 (2013)
  • 高松 弘行 ID: 9000347154666

    (株)神戸製鋼所 (2013 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 表面光電圧法による熱処理したアモルファスSi薄膜の結晶性評価 (2013)
  • 髙松 弘行 ID: 9000382230222

    Articles in CiNii:1

    • 2モード超音波センサによる残留応力測定 : 表面SH波とレーリー波を併用した残留応力測定 (特集 超音波等を適用したプラントの保守検査(1)) (2018)
  • TAKAMATSU H. ID: 9000003001274

    Kobe Steel, Ltd. (2012 from CiNii)

    Articles in CiNii:12

    • Application of laser ultrasonic to optically rough surface (1995)
    • Evaluation of Damage in Silicon Wafer Using a Photoacoustic Displacement Laser Interferometer (1995)
    • 光熱変位計測による材料評価 (1998)
  • TAKAMATSU Hiroyuki ID: 9000014269398

    Kobe Steel Ltd. (2010 from CiNii)

    Articles in CiNii:2

    • Thermal Conductivity Measurement Technique for Cu-Pt Alloy Thin Films by a Modulated Thermoreflectance Method (2009)
    • Spatially Resolved Thermal Conductivity of Intermetallic Compounds Measured by Micro-Thermoreflectance Method (2010)
  • TAKAMATSU Hiroyuki ID: 9000253679533

    (株) 神戸製鋼所 電子情報研究所 (1998 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Photoacoustic Displacement Measurements for Materials Characterization. (1998)
  • TAKAMATSU Hiroyuki ID: 9000350651876

    Articles in CiNii:1

    • Nondestructive Material Characterization with Laser Ultrasound (1993)
  • Takamatsu Hiroyuki ID: 9000258391941

    Kobe Steel Ltd. (2008 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Evaluation of thermal conductivity of Cu thin film by a periodical heating thermoreflectance method (2008)
  • Takamatsu Hiroyuki ID: 9000391543332

    Kobe Steel, Ltd. (1992 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • A New Laser Photothermal Displacement Measurement for Evaluation of Semiconductor Lattice Damages (1992)
Page Top