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  • 高橋 庸夫 ID: 9000007460664

    Articles in CiNii:4

    • 新しい熱処理設備と雰囲気制御 (熱処理の新技術と表面工学<特集>) -- (熱処理設備・装置) (1989)
    • 洗浄装置--真空洗浄機(SEVIO) (最近の特殊鋼熱処理炉<特集>) (1993)
    • N2ベ-ス熱処理用多目的炉による省エネルギ- (〔熱処理〕省エネルギ-特集号) (1983)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000010191289

    Articles in CiNii:1

    • 地球温暖化防止 排出権取引、温室効果ガス削減で広がるビジネスチャンス (2006)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000010724220

    Articles in CiNii:1

    • 座談会 企業にとっての排出量市場価格 (2009)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000017759338

    Articles in CiNii:1

    • 高粘性,重合性液体のレベル計 (プロセス・レベル計装の実際(特集)) (1968)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000321617403

    Articles in CiNii:1

    • An STDP control circuit and its evaluation using a Cu-MoOx-Al resistance change memory fabricated on a Si MOSFET (2016)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000323834859

    Articles in CiNii:1

    • Visualization of Filament of ReRAM during Resistive Switching by in-situ Transmission Electron Microscopy (2016)
  • 髙橋 庸夫 ID: 9000335186390

    Articles in CiNii:1

    • Conductive Filament in Resistive RAM Investigated by In-Situ TEM (2015)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000356547021

    Articles in CiNii:1

    • Fabrication and evaluation of silicon triple quantum dots with a compact device structure (2017)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000356548099

    Articles in CiNii:1

    • Fabrication and evaluation of silicon triple quantum dots with a compact device structure (2017)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000388460261

    Articles in CiNii:1

    • 単層Fe-MgF₂グラニュラー薄膜を用いた単電子トランジスタの電気特性 (電子デバイス) (2018)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000388461164

    Articles in CiNii:1

    • 単層Fe-MgF₂グラニュラー薄膜を用いた単電子トランジスタの電気特性 (シリコン材料・デバイス) (2018)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000403024491

    Articles in CiNii:1

    • CuとTaを上部電極に用いたTa₂O[₅-δ]多値抵抗変化メモリの特性評価 (シリコン材料・デバイス) (2019)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000403025336

    Articles in CiNii:1

    • CuとTaを上部電極に用いたTa₂O[₅-δ]多値抵抗変化メモリの特性評価 (電子デバイス) (2019)
  • 高橋 庸夫 ID: 9000403028617

    Articles in CiNii:1

    • CuとTaを上部電極に用いたTa₂O[₅-δ]多値抵抗変化メモリの特性評価 (電子部品・材料) (2019)
  • TAKAHASHI Yasuo ID: 1000090374610

    Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido Univ. (2015 from CiNii)

    Articles in CiNii:96

    • Thermal oxidation peculiar to a very thin SOI layer and its applications (1997)
    • Observation of Pattern-dependent Oxidation of Silicon Nanostructures (2002)
    • Detection and manipulation of single charges in Si nanowires (2002)
  • TAKAHASHI Yasuo ID: 9000000661361

    NTT物性科学基礎研究所,Siナノデバイス研究グループ (2002 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • 単電子デバイスによる論理回路 (2002)
  • TAKAHASHI Yasuo ID: 9000107315459

    Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University (2012 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Electrical characteristics of MgF_2/Fe/MgF_2 thin films (2012)
  • TAKAHASHI Yasuo ID: 9000107358696

    Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University (2012 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Electrical characteristics of MgF_2/Fe/MgF_2 thin films (2012)
  • TAKAHASHI Yasuo ID: 9000253322157

    Department of Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Tohoku University (1981 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • The Effects of Optical Anisotropy and Cell Thickness on TN-LCDs (1981)
  • TAKAHASHI Yasuo ID: 9000253326748

    NTT Basic Research Laboratories (1997 from CiNii)

    Articles in CiNii:1

    • Thermal oxidation peculiar to a very thin SOI layer and its applications (1997)
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