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  • Kozo Kinoshita ID: 9000347529356

    Articles in CiNii:1

    • On the Effect of Size of Fault Word in Parallel Fault Simulation （1986）
  • KINOSHITA KOZO ID: 9000364925709

    Wakayama Experiment Station of Medicinal Plants, National Institute of Hygienic Sciences （1981 from CiNii）

    Articles in CiNii:22

    • ケシ(Papaver somniferum L.)の耐病性系統の生産力について （1977）
    • ケシ(Papaver somniferum L.)の早生型系統の生産力について （1975）
    • ケシ(Papaver somniferum L.)早生一貫の育成について （1964）
  • KINOSHITA Kozo ID: 1000000028995

    Graduate School of Computer Science, Osaka Gakuin University （2012 from CiNii）

    Articles in CiNii:71

    • Removal of Redundancy in Combinational Circuits by Classification of Undetectable Faults （1992）
    • On Speed-Up of Fault Simulation for Handling Intermediate Faulty Voltages （2005）
    • Throughput Analysis of End-to-End ARQ Protocol over Tandem Links : The case of Generalized Go-Back-N ARQ （1995）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000000522471

    Faculty of Engineering, Osaka University （1992 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Design of Testing Circuit and Test Generation for Built-in Current Testing （1992）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000003782370

    Faculty of Integrated Acts and Sciences, Hiroshima University （1989 from CiNii）

    Articles in CiNii:10

    • VLSIのテストと高信頼性 (システムにおける安全性と高信頼性<特集>) （1985）
    • マイクロコンピュ-タのソフトウェア開発手法 (システムと制御技術展′79特集号) （1979）
    • LSIの故障診断技術 (LSI試験技術<特集>) （1987）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004535581

    Faculty of Informatics, Osaka Gakuin University （2002 from CiNii）

    Articles in CiNii:7

    • トライステ-ト素子を含む回路のテスト生成手法について （1989）
    • 活性化経路を利用した検査入力生成の効率化手法--PATHアルゴリズム （1990）
    • A Fault Simulation method for crosstalk faults in synchronous sequential circuits （1995）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004801515

    Faculty of Engineering, Osaka University （1995 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Efficient Guided-Probe Fault Location Method for Sequential Circuits （1995）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004802061

    Faculty of Engineering, Osaka University （1995 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Acceleration Techniques of Multiple Fault Test Generation Using Vector Pair Analysis （1995）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004802080

    Faculty of Informatics, Osaka Gakuin University （2007 from CiNii）

    Articles in CiNii:8

    • On Design for I_<DDQ>-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies(Computer Components) （2005）
    • Testing of k-FR Circuits under Highly Observable Condition （1995）
    • Transistor Leakage Fault Diagnosis with I_<DDQ> and Logic Information （1998）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004802106

    Faculty of Engineering, Osaka University （1995 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Retiming for Sequential Circuits with a Specified Initial State and Its Application to Testability Enhancement （1995）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004803741

    Dept. of Applied Physics, Faculty of Eng., Osaka University （1997 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • A Fault Simulation Method for Crosstalk Faults in Synchronous Sequential Circuits （1997）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004805691

    Dept. of Applied Physics, Faculty of Engineering, Osaka University （1999 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Power Estimation and Reduction of CMOS Circuits Considering Gate Delay （1999）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004869515

    the Faculty of Engineering, Osaka University （1998 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Test Generation for Sequential Circuits under IDDQ Testing （1998）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000004869539

    The authors are with the Department of Applied Physics, Faculty of Engineering, Osaka University （1998 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Logic Optimization: Redundancy Addition and Removal Using Implication Relations （1998）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000005593456

    Department of Applied Physics, Osaka University （1998 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Solution of the Knapsack Problem by Deoxyribonucleic Acid Computing （1998）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000006500089

    Faculty of Informatics, Osaka Gakuin University （2002 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Reduction of the Target Fault List and Fault Simulation Method for Crosstalk Faults in Clock-Delayed Domino Circuits （2002）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000006500104

    Faculty of Informatics,Osaka Gakuin University （2002 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • IDDQ Test Time Reduction by High Speed Charging of Load Capacitors of CMOS Logic Gates （2002）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000021556009

    Experimental Farm for the Cultivation of Medicinal Plants, attached to the National Hygienic （1956 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • On colchicine-induced polyploid Insect Flower (<i>Chrysanthemum cinerariaefolium</i> Bocc.) （1956）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000242085212

    Osaka Gakuin University （2013 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • SAT-Based Test Generation for Open Faults Using Fault Excitation Caused by Effect of Adjacent Lines （2013）
  • KINOSHITA Kozo ID: 9000253677096

    広島大学 総合科学部 （1985 from CiNii）

    Articles in CiNii:1

    • Testing and reliable design of VLSI. （1985）
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