走査トンネル顕微鏡によるシリコン固相エピタキシー過程の観察
書誌事項
- タイトル別名
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- Solid-Phase Epitaxy Processes of Amorphous Si Layers on Si Substrates Studied by Scanning Tunneling Microscopy
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収録刊行物
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- 表面科学
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表面科学 16 (2), 105-112, 1995-02-10
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詳細情報
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- CRID
- 1572543023950963328
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- NII論文ID
- 10002114893
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- NII書誌ID
- AN00334149
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- ISSN
- 03885321
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles