ケルビンプローブ顕微鏡を用いたGaAs HEMT断面・ヘテロ構造の電位分布測定
Bibliographic Information
- Other Title
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- ケルビンプローブ ケンビキョウ オ モチイタ GaAs HEMT ダンメン ヘテロ コウゾウ ノ デンイ ブンプ ソクテイ
- 小特集:化合物半導体積層構造の成長と評価
- ショウトクシュウ カゴウブツ ハンドウタイ セキソウ コウゾウ ノ セイチョウ ト ヒョウカ
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Abstract
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会
Journal
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- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
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表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 20 (1), 9-13, 1999-01
東京 : 日本表面科学会
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Details
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- CRID
- 1521136280421286400
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- NII Article ID
- 10002266902
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- NII Book ID
- AN00334149
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- ISSN
- 03885321
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- NDL BIB ID
- 1117044
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles