放射光Ｘ線結晶学で今何ができるか？　微少量・高精度・極限に迫る　ＧａＡｓ単結晶の格子間隔の高精度測定

• 安藤 正海

  高エネルギー物理学研究所放射光実験施設

• 安阿彌 繁

  (株) 東芝ULSI研究所

書誌事項

タイトル別名

• Frontiers in Crystallography with Synchrotron Radiation. Utilizing of Various Properties of Synchrotron Radiation. High Precision Lattice Spacing Measurement of GaAs Single Crystals.
• GaAs タンケッショウ ノ コウシ カンカク ノ コウ セイド ソクテイ

抄録

Characterization by high precision lattice spacing measurement using synchrotron radiation is reviewed, Relationship between lattice spaciing and residual strain, dislocation density, composition of raw material and cell structures are given.

収録刊行物

• 日本結晶学会誌

  日本結晶学会誌 39 (1), 99-104, 1997

  日本結晶学会

詳細情報

• CRID: 1390001204087415296
• NII論文ID: 10002589351
• NII書誌ID: AN00188364
• DOI: 10.5940/jcrsj.39.99
• ISSN: 18845576
• ISSN: 03694585
• NDL書誌ID: 4159576
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4159576
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可