集束イオンビームによる断面TEM試料作製

• 高井 義造

• 多留谷 政良

• 志水 隆一

Bibliographic Information

Other Title

• シュウソク イオン ビーム ニヨル ダンメン TEM シリョウ サクセイ

Journal

• 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編

  電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 32 (1), 33-38, 1997-03

  東京 : 日本顕微鏡学会

Details

• CRID: 1520009410309103232
• NII Article ID: 10002641188
• NII Book ID: AN00153086
• ISSN: 04170326
• NDL BIB ID: 4193661
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4193661
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles