High-precision structure refinement by the convergent-beam electron diffraction.
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- Tanaka Michiyoshi
- 東北大学科学計測研究所
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- Tsuda Kenji
- 東北大学科学計測研究所
Bibliographic Information
- Other Title
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- 収束電子回折法の発展 精密構造解析
- シュウソク デンシ カイセツホウ ノ ハッテン セイミツ コウゾウ カイセキ
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Journal
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- Denshi kenbikyo
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Denshi kenbikyo 33 (3), 142-150, 1998
The Japanese Society of Microscopy
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679710475136
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- NII Article ID
- 10002642112
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- NII Book ID
- AN00153086
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- NDL BIB ID
- 4624347
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- ISSN
- 04170326
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles