Mechanism and Suppression of Ion Migration in Printed Circuit Boards
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- OHTORI Toshiyuki
- Fundamental Research Laboratory, Sumitomo Bakelite Co., Ltd.
Bibliographic Information
- Other Title
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- プリント回路板の絶縁劣化要因としてのイオンマイグレーション -その発生メカニズムと抑制策-
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Journal
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- 回路実装学会誌
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回路実装学会誌 10 (2), 80-86, 1995-03-20
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1574231873810539520
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- NII Article ID
- 10002644165
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- NII Book ID
- AN10564349
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- ISSN
- 13410571
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- CiNii Articles