112 逐次棄却法PIV解析の精度向上に関する検討

• 寺西 卓也

  関西大院

• 利安 忠

  関西大院

• 片山 嘉一郎

  関西大院

• 植村 知正

  関西大院

書誌事項

タイトル別名

• Study on Sub-Pixel PIV Using Successive Abandonment Method
• チクジ キキャクホウ PIV カイセキ ノ セイド コウジョウ ニ カンスル

抄録

In order to improve the measurement accuracy of the successive abandonment method, three sub-pixel analysis methods are examined about their precision and analysis time. Among them, the weighted average method has the lowest precision. And two others, a reflection point method and a shifted template method, have similar precision. Measurement precision is examined by rotating and shifting a solid pattern. As for analysis time, so far, the former method seems to be faster than the latter.

収録刊行物

• 可視化情報学会誌

  可視化情報学会誌 18 (Supplement1), 63-66, 1998

  社団法人 可視化情報学会

詳細情報

• CRID: 1390001204619710080
• NII論文ID: 10002675530
• NII書誌ID: AN10374478
• DOI: 10.3154/jvs.18.supplement1_63
• ISSN: 1884037X
• ISSN: 09164731
• NDL書誌ID: 4511010
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4511010
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可