WC-Co溶射皮膜のRieveld分析と残留応力測定

• 植田 大樹

  足利工業大学・大学院

• 鬼頭 昭仁

  足利工業大学・大学院

• 戸部 省吾

  足利工業大学

書誌事項

タイトル別名

• Rietveld Analysis and Residual Stresses Measurement of WC-Co Coatings

収録刊行物

• 全国講演大会講演論文集

  全国講演大会講演論文集 64 39-40, 1996-10-15

詳細情報

• CRID: 1570572699105030144
• NII論文ID: 10002688072
• NII書誌ID: AA11461805
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles