2接触線の高周波通電に於ける近接抵抗に関する自由電子論的考察

• 大島 修三

  岩手大学

• 柏葉 安兵衛

  岩手大学

• 馬場 守

  岩手大学

• 藤原 民也

  岩手大学

書誌事項

タイトル別名

• Based on Free Electron Scheme under High-Frequency Current
• 2セッショクセン ノ コウシュウハ ツウデン ニ オケル キンセツ テイコウ

抄録

Proximity resistance to high-frequency current conducted with same direction in contact has been analyzed, taking Lorentz and Coulomb forces into considerations.<br>As a result, displacement of conducting carriers caused by the proximity effect, forms the new current distribution with three components, that is, skin effect, Lorentz force and Coulomb force components without the boundaries of carriers.<br>Based on this consideration, the ratio of ac resistance to the dc one has been calculated, using Cassinian ovals. The calculated resistance was in agreement with experimental value within 10%.

収録刊行物

• 電気学会論文誌．　Ａ

  電気学会論文誌．　Ａ 118 (2), 123-128, 1998

  一般社団法人 電気学会

キーワード

• 近接効果
• 表皮効果
• 変成器
• カシニ座標

詳細情報

• CRID: 1390282679575059456
• NII論文ID: 130006838292
• NII論文ID: 10002823557
• NII書誌ID: AN10136312
• DOI: 10.1541/ieejfms1990.118.2_123
• ISSN: 13475533
• ISSN: 03854205
• NDL書誌ID: 4391689
• Web Site: https://iwate-u.repo.nii.ac.jp/records/9823
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4391689
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms1990/118/2/118_2_123/_pdf
• データソース種別:
  • JaLC
  • IRDB
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可