キャパシタ電極を用いた浅部比抵抗マッピング法実用化のための基礎研究

• 長谷川 信介

  応用地質株式会社

• 島 裕雅

  応用地質株式会社

書誌事項

タイトル別名

• A fundamental study on the shallow resistivity mapping technique using capacitive electrodes

収録刊行物

• 物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference

  物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference 92 414-417, 1995-06

詳細情報

• CRID: 1571980073987575808
• NII論文ID: 10002837152
• NII書誌ID: AN10532932
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles