非接触モード原子間顕微鏡による化合物半導体表面の原子分解能観察

被引用文献1件

収録刊行物

  • 真空

    真空 38 (11), 943-, 1995

被引用文献 (1)*注記

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1574231873856769152
  • NII論文ID
    10003268781
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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