蛍光X線分析装置による珪酸塩岩石中の微量元素の定量分析

• 田村 真一

  新潟大学理学部地質鉱物学教室

• 小林 豊

  新潟大学理学部地質鉱物学教室

• 周藤 賢治

  新潟大学理学部地質鉱物学教室

書誌事項

タイトル別名

• Quantitative analysis of the trace elements in silicate rocks by X-ray fluorescence method
• ケイコウ Xセン ブンセキ ソウチ ニ ヨル ケイサンエン ガンセキチュウ ノ

抄録

記事分類: 地球科学--火山・岩石

収録刊行物

• 地球科学

  地球科学 43 (3), 180-185, 1989

  地学団体研究会

詳細情報

• CRID: 1390282679209582336
• NII論文ID: 110007092113
• NII論文ID: 10003417834
• NII書誌ID: AN00141269
• DOI: 10.15080/agcjchikyukagaku.43.3_180
• ISSN: 21897212
• ISSN: 03666611
• NDL書誌ID: 3230197
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3230197
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles