Advances in High-Resolution Transmission Electron Microscopy

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  • Materials transactions, JIM

    Materials transactions, JIM 39(9), 888-902, 1998-09

    Japan Institute of Metals

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    MERKLE K. L.

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    ERNST F.

    Materials Science and Engineering R14, 97, 1995

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  • High-Voltage and High-Resolution Electron Microscopy

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  • Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America

    HAIDER M.

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    SMITH D. J.

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    HIRABAYASHI M.

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    GRONSKY R.

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    WATANABE H.

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    HETHERINGTON C. J. D.

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  • Electron Microscopy 1994

    ISHIDA Y.

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    IEHINOSE H.

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    HORIUCHI S.

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    XIN Y.

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    ROSENAUER A.

    Optik 102, 63, 1996

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  • Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces

    Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 466 245, 1997

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  • Electron Microscopy 1998

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    ROUVIERE J. L.

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  • Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces

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    TANAKA N.

    J. Electron Microsc. 45, 113, 1996

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10003803704
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10699969
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    09161821
  • NDL 記事登録ID
    4583303
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z53-J286
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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