Quantitative Convergent Beam Electron Diffraction

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  • Materials transactions, JIM

    Materials transactions, JIM 39(9), 938-946, 1998-09

    Japan Institute of Metals

参考文献:  45件中 1-45件 を表示

  • proceedings

    ZUO J. M.

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    被引用文献1件

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    ZUO J. M.

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  • Automated structure factor refinement from convergent-beam patterns

    ZUO J. M.

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    DOI 被引用文献4件

  • Measurement of low-order structure factors for silicon from zone-axis CBED patterns

    SAUNDERS M.

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    DOI 被引用文献2件

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    WEICKENMEIER A. L.

    Acta Cryst. A47, 590, 1991

    DOI 被引用文献5件

  • Effect of Mn doping on charge density in γ-TiAl by quantitative CBED

    HOLMESTAD R.

    Phil Mag, 579-601, 1995

    DOI 被引用文献4件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10003803998
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10699969
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    09161821
  • NDL 記事登録ID
    4583309
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z53-J286
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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