ボタンビットの貫入試験結果に及ぼすビット摩耗の影響  [in Japanese]

Codes

• NII Article ID (NAID)

  10004458861

• NII NACSIS-CAT ID (NCID)

  AA11589536

• Text Lang

  JPN

• Article Type

  OTR

• ISSN

  09197915

• Data Source

  CJP