「産業用X線CTの動向」

• 池田 泰

  (財)ファインセラミックスセンター

収録刊行物

• 非破壊検査

  非破壊検査 48 (9), 565-, 1999-09-01

詳細情報

• CRID: 1572824499064576384
• NII論文ID: 10004471049
• NII書誌ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles