IPを用いたX線CTによるセラミックスの内部検査

• 池田泰

収録刊行物

• (社)日本非破壊検査協会 第1回放射線シンポジウム講演論文集

  (社)日本非破壊検査協会 第1回放射線シンポジウム講演論文集 190-195, 1995

詳細情報

• CRID: 1573668923994710016
• NII論文ID: 10004471093
• データソース種別:
  • CiNii Articles