DBTTでSi中における亀裂に沿った転位の発生

• SUPRIJADI

  名大. 工

• 坂 公恭

  名大. 工

書誌事項

タイトル別名

• A dislocation wake along a crack in Si at the DBTT

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 113-, 1999-05-01

詳細情報

• CRID: 1570291224322012544
• NII論文ID: 10004538889
• NII書誌ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles