試料バイアス電圧のUHV NC-AFM観察に及ぼす影響

• 北村 真一

  日本電子(株)

• 鈴木 克之

  日本電子(株)

• 岩槻 正志

  日本電子(株)

書誌事項

タイトル別名

• Effects of Sample Bias Voltage in UHV NC-AFM Observation

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 158-, 1999-05-01

詳細情報

• CRID: 1571698599205283712
• NII論文ID: 10004539019
• NII書誌ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles