イオン顕微鏡(SIMとFIM)

• 石谷 亨

  日立製作所計測器グループ

書誌事項

タイトル別名

• Ion Microscope (SIM & FIM)

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 35 (1), 30-31, 2000

  公益社団法人　日本顕微鏡学会

詳細情報

• CRID: 1390001204734048640
• NII論文ID: 10004629146
• NII書誌ID: AN00145000
• DOI: 10.11410/kenbikyo1950.35.30
• COI: 1:CAS:528:DC%2BD3cXjtlOrsLk%3D
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles