Maximum Entropy Method:Extension of Structural Information to near 0.1nm for Materials Interface

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Maximum Entropy Method Extension of Structural Information to near 0.1nm for Materials Interface
〔1999年〕日本電子顕微鏡学会第44回シンポジウム論文集新しい顕微鏡技術が切り開く生命と物質の世界,学会賞(瀬藤賞)受賞講演〔含著者索引〕 ; 電顕による先端材料解析の最前線(高温超伝導と超巨大磁気伝導を中心として)
1999ネンニホンデンシケンビキョウガッカイダイ44カイシンポジウムロンブンシュウアタラシイケンビキョウギジュツガキリヒラクセイメイトブッシツノセカイガッカイショウセトウショウジュショウコウエンガンチョシャサクイン ; デンケンニヨルセンタンザイリョウカイセキノサイゼンセンコウオンチョウデンドウトチョウキョダイジキデンドウオチュウシントシテ

電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会編

電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会編 34 (Suppl.2), 293-296, 1999-11

東京 : 日本顕微鏡学会