The Technical Basis Document of Visual Resolution Gauge

• SATO T.

  (財)発電設備技術検査協会

• TAGUCHI T.

  (株)日立製作所

• NAKANO M.

  (株)タセト

• AIMURA H.

  栄進化学(株)

• SEKINE K.

  横浜国立大学

Bibliographic Information

Other Title

• 目視基準ゲージの決定根拠等について

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 2000 (2), 245-246, 2000-11-01

Keywords

• 非破壊試験
• 浸透探傷試験
• 磁粉探傷試験

Details

• CRID: 1571980074168884224
• NII Article ID: 10004667635
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles