Principle and application of high minute amorphous selenium (a-Se)flat panel detector
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- KINOSITA Y.
- 日本非破壊検査(株)
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- DAIDOH H.
- 日本アグファ・ゲバルト(株)
Bibliographic Information
- Other Title
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- アモルファスセレン(a-Se)高精細フラットパネルの原理と応用
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- 大会講演概要集
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大会講演概要集 2000 (2), 253-254, 2000-11-01
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1573387449052438144
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- NII Article ID
- 10004667646
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- NII Book ID
- AA11592632
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- CiNii Articles