CCDイメージセンサにおける基板不純物密度の変動と飽和信号レベル変動の関係

• 木村孝之

収録刊行物

• 電気学会論文誌-E

  電気学会論文誌-E 119 (5), 295-301, 1999

詳細情報

• CRID: 1571698599188697088
• NII論文ID: 10004834678
• データソース種別:
  • CiNii Articles