分析電子顕微鏡による超高圧物質の解析

• 藤野 清志

  北海道大学大学院理学研究科

• 宮島 延吉

• 富岡 尚敬

書誌事項

タイトル別名

• Analyses of Ultrahigh Pressure Materials by an Analytical Elelctron Microscope.
• ブンセキ デンシ ケンビキョウ ニ ヨル チョウコウアツ ブッシツ ノ カイセキ

抄録

Analyses of ultrahigh pressure materials by an analytical electron microscope (AEM) are reviewed. AEM provides important advantages for analyzing synthetic and natural ultrahigh pressure materials because it enables us to analyze both structure and composition of these materials down to tens of nm-sized grains. Using AEM, several new high-pressure minerals were discovered in shocked meteorites, and new phases and new phase transformation behaviors were recognized in ultrahigh pressure experiments under the Earth's lower mantle conditions.

収録刊行物

• 高圧力の科学と技術

  高圧力の科学と技術 10 (4), 312-318, 2000

  日本高圧力学会

キーワード

• analytical electron microscope
• ultrahigh pressure materials
• shocked meteorites
• Earth's lower mantle

詳細情報

• CRID: 1390001204381856896
• NII論文ID: 10007140120
• NII書誌ID: AN10452913
• DOI: 10.4131/jshpreview.10.312
• COI: 1:CAS:528:DC%2BD3MXhtVWgsw%3D%3D
• ISSN: 13481940
• ISSN: 0917639X
• ISSN: http://id.crossref.org/issn/0917639X
• NDL書誌ID: 5587366
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5587366
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可