SiO_2/Si(001)界面の走査トンネル顕微鏡による解析
書誌事項
- タイトル別名
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- STM Analysis of the SiO_2/Si(001) Interface
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収録刊行物
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- 真空
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真空 44 (3), 341-, 2001-03-20
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573950399354439936
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- NII論文ID
- 10007388930
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- NII書誌ID
- AN00119871
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- ISSN
- 05598516
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles