Si(111)上のCaF_2薄膜成長の走査トンネル顕微鏡観察

• 亀谷 圭介

  大阪大学産業科学研究所

• 須藤 孝一

  大阪大学産業科学研究所

• 岩崎 裕

  大阪大学産業科学研究所

書誌事項

タイトル別名

• STM Observation of Epitaxial Growth of CaF_2 on Si(111)

収録刊行物

• 真空

  真空 44 (3), 342-, 2001-03-20

詳細情報

• CRID: 1570572699633911936
• NII論文ID: 10007388936
• NII書誌ID: AN00119871
• ISSN: 05598516
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles