展望 2000年度の電磁気,浸透及びその他による非破壊試験の展望

• 脇若 弘之

書誌事項

タイトル別名

• テンボウ 2000ネンド ノ デンジキ シントウ オヨビ ソノタ ニ ヨル ヒハカイ シケン ノ テンボウ

収録刊行物

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 50 (8), 497-502, 2001-08

  [東京] : 日本非破壊検査協会

キーワード

• 磁粉探傷
• 浸透探傷
• 渦流探傷
• 漏洩磁束探傷
• 漏れ試験
• サーモグラフィ
• 目視試験
• 電位差法

詳細情報

• CRID: 1520009408933715456
• NII論文ID: 10007391505
• NII書誌ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL書誌ID: 5857373
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5857373
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles