極間法における欠陥からの漏洩磁束密度に及ぼすB-H曲線の影響

• 増本 憲孝

  九州工業大学

• 加藤 光昭

  九州工業大学

• 西尾 一政

  九州工業大学

• 山口 富子

  九州工業大学

書誌事項

タイトル別名

• Influence of B-H Curves on Leakage Flux Density from a Defect in Yoke Method

収録刊行物

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 2001 (2), 13-14, 2001-10-01

キーワード

• 磁気探傷試験
• 有限要素法
• 漏洩磁束密度
• 初比透磁率
• 飽和磁束密度

詳細情報

• CRID: 1572824499425352192
• NII論文ID: 10007535539
• NII書誌ID: AA11592632
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles