赤外線サーモグラフィによる材料内部欠陥の検出とその数値シミュレーション(欠陥検出における材料の熱拡散率の影響)

• 石井 敏満

• 稲垣 照美

• 坂根 泰輔

書誌事項

タイトル別名

• セキガイセン サーモグラフィ ニ ヨル ザイリョウ ナイブ ケッカン ノ ケンシュツ ト ソノ スウチ シミュレーション ケッカン ケンシュツ ニ オケル ザイリョウ ノ ネツ カクサンリツ ノ エイキョウ

収録刊行物

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 51 (4), 223-230, 2002-04

  [東京] : 日本非破壊検査協会

キーワード

• 熱画像
• Infrared thermography
• Numerical simulation
• Internal defect
• Thermal image
• Thermal diffusivity

詳細情報

• CRID: 1520009407980856832
• NII論文ID: 10007951261
• NII論文ID: 10011632640
• NII書誌ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL書誌ID: 6125326
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6125326
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles