硝酸塩,硫酸塩などからのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターン Inference of Ga-primary Ion TOF-SIMS Fragment Pattern of Nitrates and Sulfates

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抄録

Gallium primary ion TOF-SIMS fragment patterns from some nitrates and sulfates can be qualitatively inferred. Considering the chemical parameters: valence and electron negativity (electron affinity) of cations and anions in fragments, the regularity of fragment pattern appearance behavior from some nitrates and sulfates could be inferred, but the effect of surface contaminants like water should be taken into consideration as in the case of halides and oxides.

収録刊行物

  • 表面科学 : hyomen kagaku = Journal of the Surface Science Society of Japan

    表面科学 : hyomen kagaku = Journal of the Surface Science Society of Japan 23(4), 209-214, 2002-04-10

    公益社団法人 日本表面科学会

参考文献:  9件中 1-9件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008008437
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    6135225
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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