基礎講座〈基礎編:結晶・薄膜の構造および表面分析法〉電子顕微鏡(1)

• 青山 隆

書誌事項

タイトル別名

• キソ コウザ キソヘン ケッショウ ハクマク ノ コウゾウ オヨビ ヒョウメン ブンセキホウ デンシ ケンビキョウ 1

収録刊行物

• 応用物理

  応用物理 71 (5), 583-587, 2002-05

  東京 : 応用物理学会

キーワード

• transmission electron microscopy (TEM)
• TEM image
• TEM diffraction pattern
• image contrast
• dislocation
• Bragg condition
• Ewald sphere

詳細情報

• CRID: 1520853834400632064
• NII論文ID: 10008201122
• NII書誌ID: AN00026679
• ISSN: 03698009
• NDL書誌ID: 6128074
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6128074
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles