<結晶・薄膜の構造および表面分析法>電子顕微鏡(I)  [in Japanese] Electron Microscopy (I)  [in Japanese]

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  • 應用物理

    應用物理 71(5), 583-587, 2002-05-10

    応用物理学会

References:  8

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10008201122
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN00026679
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    REV
  • ISSN
    03698009
  • NDL Article ID
    6128074
  • NDL Source Classification
    ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
  • NDL Call No.
    Z15-243
  • Data Source
    CJP  NDL 
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