最近の装置開発と将来像  [in Japanese] Recent instrumentation and future perspective  [in Japanese]

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  • Electron-microscopy

    Electron-microscopy 37(1), 10-16, 2002-03-30

    日本電子顕微鏡学会

References:  24

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10008217186
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN00145000
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    REV
  • ISSN
    04170326
  • NDL Article ID
    6142243
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-896
  • Data Source
    CJP  NDL 
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