FTAを活用した故障解析精度の向上による加速試験開発モデルの研究と半導体センサーへの応用  [in Japanese] Studies on Methodology for Developing Accelerated Testing by Precise Analysis of Failures Utilizing FTA, and its Application to Semiconductor Sensors  [in Japanese]

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Author(s)

Journal

  • Marine engineering

    Marine engineering 37(5), 61-71, 2002-05-01

    日本マリンエンジニアリング学会

References:  11

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10008477368
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA11505252
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    13461427
  • NDL Article ID
    6138964
  • NDL Source Classification
    ZN24(科学技術--運輸工学--船舶)
  • NDL Call No.
    Z16-747
  • Data Source
    CJP  NDL 
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