カーボンナノチューブを探針にしたSTM/SREMによるSi表面の観察

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著者

    • 遠藤 勝義
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
    • 池上 忠明
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
    • 藤井 由紀
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
    • 秋田 成司
    • 大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学専攻
    • 中山 善萬
    • 大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学専攻
    • 森 勇蔵
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター

収録刊行物

  • 精密工学会大会学術講演会講演論文集

    精密工学会大会学術講演会講演論文集 2002(1), 45, 2002-03-01

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    SHIMIZU Tetsuo

    Surface Science 486, L455, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    WATANABE H.

    Surface Science 385, L952, 1997

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008499589
  • NII書誌ID(NCID)
    AN1018673X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • データ提供元
    CJP書誌 
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