カーボンナノチューブを探針にしたSTM/SREMによるSi表面の観察  [in Japanese]

Search this Article

Author(s)

    • 遠藤 勝義
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
    • 池上 忠明
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
    • 藤井 由紀
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
    • 秋田 成司
    • 大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学専攻
    • 中山 善萬
    • 大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学専攻
    • 森 勇蔵
    • 大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター

Journal

  • 精密工学会大会学術講演会講演論文集

    精密工学会大会学術講演会講演論文集 2002(1), 45, 2002-03-01

References:  2

  • <no title>

    SHIMIZU Tetsuo

    Surface Science 486, L455, 2001

    Cited by (1)

  • <no title>

    WATANABE H.

    Surface Science 385, L952, 1997

    Cited by (1)

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10008499589
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN1018673X
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    SHO
  • Data Source
    CJP 
Page Top