次世代高密度光ディスクの基盤厚ずれ高速計測とその自動補正制御  [in Japanese]

Search this Article

Author(s)

Journal

  • 精密工学会大会学術講演会講演論文集

    精密工学会大会学術講演会講演論文集 2002(1), 748, 2002-03-01

References:  1

  • <no title>

    ICHIMURA I.

    Jpn.J.Appl.Phys. 39, 937, 2000

    Cited by (37)

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10008501559
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN1018673X
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    SHO
  • Data Source
    CJP 
Page Top