小視野 CdTe 半導体検出器を用いた SPECT 定量性向上の検討  [in Japanese] Feasibility Study of SPECT Quantification Using CdTe Semiconductor Detector  [in Japanese]

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Author(s)

    • 高山 卓三 TAKAYAMA Takuzo
    • (株)東芝医用システム社医用機器・システム開発センター Medical Systems Research & Development Center, Toshiba Corporation Medical Systems Company
    • 中村 信之 NAKAMURA Nobuyuki
    • (株)東芝医用システム社医用機器・システム開発センター Medical Systems Research & Development Center, Toshiba Corporation Medical Systems Company
    • 本村 信篤 MOTOMURA Nobutoku
    • (株)東芝医用システム社医用機器・システム開発センター Medical Systems Research & Development Center, Toshiba Corporation Medical Systems Company
    • 森 一生 MORI Issei
    • (株)東芝医用システム社医用機器・システム開発センター Medical Systems Research & Development Center, Toshiba Corporation Medical Systems Company

Journal

  • 核医学

    核医学 37(4), 333-338, 2000-07-20

References:  12

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10008540717
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN00038394
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    00227854
  • Data Source
    CJP 
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