Calculation of Local Temperature Rise in Focused-Ion-Beam Sample Preparation

• Tohru Ishitani

• Hiroyasu Kaga

書誌事項

タイトル別名

• Calculation of Local Temperature Rise i

抄録

記事分類: 電気工学--電子工学--電子応用機器

収録刊行物

• Journal of electron microscopy

  Journal of electron microscopy 44 (5), p331-336, 1995

  Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

詳細情報

• CRID: 1521980705703069312
• NII論文ID: 10008809207
• NII書誌ID: AA00697060
• ISSN: 00220744
• NDL書誌ID: 3639414
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3639414
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles