A Novel Mapping Technique of Oxide Chemical States by Electron Probe Microanalysis

• Hideyuki Takahashi

• Toyohiko Okumura

書誌事項

タイトル別名

• Novel Mapping Technique of Oxide Chemic

収録刊行物

• Journal of electron microscopy

  Journal of electron microscopy 45 (6), 518-521, 1996-12

  Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

詳細情報

• CRID: 1520010380254757888
• NII論文ID: 10008811303
• NII書誌ID: AA00697060
• ISSN: 00220744
• NDL書誌ID: 4121955
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4121955
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles