First electron spectroscopic imaging experiments on the new JEOL 2010 FEF

• Joachim Mayer

• Syo Matsumura

• Yoshitsugu Tomokiyo

書誌事項

タイトル別名

• First electron spectroscopic imaging ex
• EELS Special issue
• EELS Special issue

収録刊行物

• Journal of electron microscopy

  Journal of electron microscopy 47 (4), 283-291, 1998

  Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

詳細情報

• CRID: 1522543654649365760
• NII論文ID: 10008813040
• NII書誌ID: AA00697060
• ISSN: 00220744
• NDL書誌ID: 4570001
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4570001
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles